国产镀层测厚仪-金属镀层测厚仪-深圳市天瑞仪器有限公司

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鍍層厚度熒光檢測(cè)儀

更新時(shí)間:2024-01-21

簡(jiǎn)要描述:

鍍層厚度熒光檢測(cè)儀采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件,良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式,測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。

  • 企業(yè)類型:制造商
  • 新舊程度:全新
  • 原產(chǎn)地:江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號(hào)
  • 測(cè)試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
  • 探測(cè)器:Si-Pin探測(cè)器
  • 工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
  • 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
  • 溫度要求:15℃至30℃。
  • 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
  • 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm

軟件優(yōu)勢(shì)

                                    

鍍層厚度熒光檢測(cè)儀采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件,良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式,測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。

軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

 

參數(shù)規(guī)格

 

1   分析元素范圍:S-U

2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm

4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm

5   定位精度:0.1mm

6   測(cè)量時(shí)間:30s-300s

7   計(jì)數(shù)率:1300-8000cps8   Z軸升降范圍:0-140mm9   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程:50mm(W)×50mm(D) 

性能特點(diǎn)

 

1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求,可以對(duì)同一鍍件不同部位測(cè)試厚度3.高精度移動(dòng)平臺(tái)可準(zhǔn)確定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度5.定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確8.良好的射線屏蔽作用9.測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù) 

測(cè)試實(shí)例

 

鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行準(zhǔn)確定位測(cè)試,其測(cè)試位置如圖。 結(jié)論

實(shí)驗(yàn)表明,使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。

 

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法1.光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052.X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

3.庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

 

Thick800A鍍層厚度熒光檢測(cè)儀是天瑞儀器銷(xiāo)量的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用上照式結(jié)構(gòu),測(cè)試準(zhǔn)確,軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。

 

儀器配置

                                            

1 硬件:主機(jī)壹臺(tái),含下列主要部件: 

①X光管                    

②半導(dǎo)體探測(cè)器

③放大電路                  

④高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)

⑤高清晰攝像頭             

⑥高壓系統(tǒng)

⑦上照、開(kāi)放式樣品腔        

⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩

2 軟件:天瑞X射線rel="nofollow" 熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)計(jì)算機(jī)(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))

4 資料:使用說(shuō)明書(shū)(包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū))、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。

5 標(biāo)準(zhǔn)附件準(zhǔn)直孔:0.1X1.0mm(已內(nèi)置于儀器中)

 

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

 

1.國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

 

應(yīng)用行業(yè)

 

1.電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量2.印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量3.貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量

4.五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量

 

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